| 北京正负电子对撞机次级束模拟质子单粒子效应分析 | |
| 贺朝会; 李国政; 刘恩科 | |
| 刊名 | 原子能科学技术
 |
| 1999 | |
| 期号 | 2页码:80-86 |
| 关键词 | 单粒子效应 质子 北京正负电子对撞机 半导体器件 |
| ISSN号 | 1000-6931 |
| URL标识 | 查看原文 |
| 收录类别 | CSCD ; PKU |
| 内容类型 | 期刊论文 |
| URI标识 | http://www.corc.org.cn/handle/1471x/6627810 |
| 专题 | 西安交通大学 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 贺朝会,李国政,刘恩科. 北京正负电子对撞机次级束模拟质子单粒子效应分析[J]. 原子能科学技术,1999(2):80-86. |
| APA | 贺朝会,李国政,&刘恩科.(1999).北京正负电子对撞机次级束模拟质子单粒子效应分析.原子能科学技术(2),80-86. |
| MLA | 贺朝会,et al."北京正负电子对撞机次级束模拟质子单粒子效应分析".原子能科学技术 .2(1999):80-86. |
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