Interface crack interacting with a microvoid in the near-tip process zone | |
Han, JJ; Chen, YH | |
刊名 | INTERNATIONAL JOURNAL OF FRACTURE
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2000 | |
卷号 | 102期号:3页码:223-244 |
关键词 | microvoid shielding J-integral interaction interface macrocrack |
ISSN号 | 0376-9429 |
URL标识 | 查看原文 |
收录类别 | SCIE ; SCOPUS ; EI |
WOS记录号 | WOS:000088936500002 |
内容类型 | 期刊论文 |
URI标识 | http://www.corc.org.cn/handle/1471x/6620521 |
专题 | 西安交通大学 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | Han, JJ,Chen, YH. Interface crack interacting with a microvoid in the near-tip process zone[J]. INTERNATIONAL JOURNAL OF FRACTURE,2000,102(3):223-244. |
APA | Han, JJ,&Chen, YH.(2000).Interface crack interacting with a microvoid in the near-tip process zone.INTERNATIONAL JOURNAL OF FRACTURE,102(3),223-244. |
MLA | Han, JJ,et al."Interface crack interacting with a microvoid in the near-tip process zone".INTERNATIONAL JOURNAL OF FRACTURE 102.3(2000):223-244. |
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