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	Interface crack interacting with a microvoid in the near-tip process zone
	Han, JJ; Chen, YH
刊名	INTERNATIONAL JOURNAL OF FRACTURE
	2000
卷号	102期号:3页码:223-244
关键词	microvoid shielding J-integral interaction interface macrocrack
ISSN号	0376-9429
URL标识	查看原文
收录类别	SCIE ; SCOPUS ; EI
WOS记录号	WOS:000088936500002
内容类型	期刊论文
URI标识	http://www.corc.org.cn/handle/1471x/6620521
专题	西安交通大学
推荐引用方式 GB/T 7714	Han, JJ,Chen, YH. Interface crack interacting with a microvoid in the near-tip process zone[J]. INTERNATIONAL JOURNAL OF FRACTURE,2000,102(3):223-244.
APA	Han, JJ,&Chen, YH.(2000).Interface crack interacting with a microvoid in the near-tip process zone.INTERNATIONAL JOURNAL OF FRACTURE,102(3),223-244.
MLA	Han, JJ,et al."Interface crack interacting with a microvoid in the near-tip process zone".INTERNATIONAL JOURNAL OF FRACTURE 102.3(2000):223-244.

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