| 利用共焦成像原理实现微米级的三维轮廓测量 | |
| 孔兵; 王昭; 谭玉山 | |
| 刊名 | 西安交通大学学报
 |
| 2001 | |
| 期号 | 11页码:1151-1154 |
| 关键词 | 内插值 光学测量 共焦 二次曲面拟合 |
| ISSN号 | 0253-987X |
| DOI | 10.3321/j.issn:0253-987X.2001.11.013 |
| URL标识 | 查看原文 |
| 收录类别 | CSCD ; PKU |
| 内容类型 | 期刊论文 |
| URI标识 | http://www.corc.org.cn/handle/1471x/6613840 |
| 专题 | 西安交通大学 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 孔兵,王昭,谭玉山. 利用共焦成像原理实现微米级的三维轮廓测量[J]. 西安交通大学学报,2001(11):1151-1154. |
| APA | 孔兵,王昭,&谭玉山.(2001).利用共焦成像原理实现微米级的三维轮廓测量.西安交通大学学报(11),1151-1154. |
| MLA | 孔兵,et al."利用共焦成像原理实现微米级的三维轮廓测量".西安交通大学学报 .11(2001):1151-1154. |
| 个性服务 |
| 查看访问统计 |
| 相关权益政策 |
| 暂无数据 |
| 收藏/分享 |
除非特别说明，本系统中所有内容都受版权保护，并保留所有权利。
修改评论