| 一种用于辉光放电光谱深度分析的激光实时测量新方法 | |
| Wan Zhen-zhen; Li Xiao-jia; Wang Yong-qing; Shi Ning; Sun Rong-xia | |
| 刊名 | 光谱学与光谱分析
 |
| 2011 | |
| 卷号 | 31页码:2536-2541 |
| 关键词 | 辉光放电原子发射光谱仪 深度轮廓分析 激光测量 实时深度测量 辉光放电 镀层 |
| ISSN号 | 1000-0593 |
| DOI | 10.3964/j.issn.1000-0593(2011)09-2536-06 |
| URL标识 | 查看原文 |
| 收录类别 | SCIE ; EI ; PKUISTICCSCD |
| WOS记录号 | WOS:000294797300051 |
| 内容类型 | 期刊论文 |
| URI标识 | http://www.corc.org.cn/handle/1471x/6589221 |
| 专题 | 北京航空航天大学 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | Wan Zhen-zhen,Li Xiao-jia,Wang Yong-qing,等. 一种用于辉光放电光谱深度分析的激光实时测量新方法[J]. 光谱学与光谱分析,2011,31:2536-2541. |
| APA | Wan Zhen-zhen,Li Xiao-jia,Wang Yong-qing,Shi Ning,&Sun Rong-xia.(2011).一种用于辉光放电光谱深度分析的激光实时测量新方法.光谱学与光谱分析,31,2536-2541. |
| MLA | Wan Zhen-zhen,et al."一种用于辉光放电光谱深度分析的激光实时测量新方法".光谱学与光谱分析 31(2011):2536-2541. |
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