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	Research on the Parametric Varying Mechanism and Modeling of Accelerometer in Storage Condition
	Chen, Y. X.; Deng, F. L.; Xu, D.; Kang, R.
	2011
会议名称	Global Conference on Digital Design and Manufacturing Technology
会议日期	2011-01-01
会议地点	Hangzhou, PEOPLES R CHINA
关键词	Guartz flexible accelerometer Storage condition bias Scale factor Finite element analysis
卷号	215
页码	305-309
收录类别	EI ; CPCI-S
URL标识	查看原文
WOS记录号	WOS:000292751700062
内容类型	会议论文
URI标识	http://www.corc.org.cn/handle/1471x/6585872
专题	北京航空航天大学
推荐引用方式 GB/T 7714	Chen, Y. X.,Deng, F. L.,Xu, D.,et al. Research on the Parametric Varying Mechanism and Modeling of Accelerometer in Storage Condition[C]. 见:Global Conference on Digital Design and Manufacturing Technology. Hangzhou, PEOPLES R CHINA. 2011-01-01.

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