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	Development of open architecture test systems
	Tang, Diyin; Yu, Jinsong; Chen, Xiongzi; Wang, Honglun
	2011
会议名称	IEEE 2011 10th International Conference on Electronic Measurement and Instruments, ICEMI 2011
会议日期	2011-08-16
会议地点	Chengdu, China
卷号	2
页码	51-54
收录类别	EI
URL标识	查看原文
内容类型	会议论文
URI标识	http://www.corc.org.cn/handle/1471x/6583170
专题	北京航空航天大学
推荐引用方式 GB/T 7714	Tang, Diyin,Yu, Jinsong,Chen, Xiongzi,et al. Development of open architecture test systems[C]. 见:IEEE 2011 10th International Conference on Electronic Measurement and Instruments, ICEMI 2011. Chengdu, China. 2011-08-16.

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