| 微波近场扫描显微镜无损介质层透视探测成像 | |
| 马慧瑾; 白明; 邵一鹏; 苗俊刚 | |
| 刊名 | 现代电子技术
 |
| 2012 | |
| 卷号 | 35页码:68-72 |
| 关键词 | 无损透视探测 微波近场扫描显微镜 隐失场 电容加载同轴谐振腔 探针 |
| ISSN号 | 1004-373X |
| DOI | 10.3969/j.issn.1004-373X.2012.10.022 |
| URL标识 | 查看原文 |
| 内容类型 | 期刊论文 |
| URI标识 | http://www.corc.org.cn/handle/1471x/6576484 |
| 专题 | 北京航空航天大学 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 马慧瑾,白明,邵一鹏,等. 微波近场扫描显微镜无损介质层透视探测成像[J]. 现代电子技术,2012,35:68-72. |
| APA | 马慧瑾,白明,邵一鹏,&苗俊刚.(2012).微波近场扫描显微镜无损介质层透视探测成像.现代电子技术,35,68-72. |
| MLA | 马慧瑾,et al."微波近场扫描显微镜无损介质层透视探测成像".现代电子技术 35(2012):68-72. |
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