| 一种敏感电路式露点测量方法 | |
| Nie, Jing; Meng, Xiaofeng; Wang, Shuo; Zheng, Rui | |
| 刊名 | 北京航空航天大学学报
 |
| 2013 | |
| 卷号 | 39页码:206-209 |
| 关键词 | 考比兹电路 露点 半导体制冷器 石英晶体微天平 |
| ISSN号 | 1001-5965 |
| URL标识 | 查看原文 |
| 收录类别 | EI ; PKUISTICCSCD |
| 内容类型 | 期刊论文 |
| URI标识 | http://www.corc.org.cn/handle/1471x/6565943 |
| 专题 | 北京航空航天大学 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | Nie, Jing,Meng, Xiaofeng,Wang, Shuo,等. 一种敏感电路式露点测量方法[J]. 北京航空航天大学学报,2013,39:206-209. |
| APA | Nie, Jing,Meng, Xiaofeng,Wang, Shuo,&Zheng, Rui.(2013).一种敏感电路式露点测量方法.北京航空航天大学学报,39,206-209. |
| MLA | Nie, Jing,et al."一种敏感电路式露点测量方法".北京航空航天大学学报 39(2013):206-209. |
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