| 用于电磁检测的综合孔径辐射计成像研究 | |
| 杨洁青; 欧乃铭; 张新宇; 白明 | |
| 刊名 | 电子测量技术
 |
| 2013 | |
| 页码 | 41-47 |
| 关键词 | 干涉式综合孔径成像 近场 电磁检测 分辨率 |
| ISSN号 | 1002-7300 |
| DOI | 10.3969/j.issn.1002-7300.2013.01.010 |
| URL标识 | 查看原文 |
| 收录类别 | ISTIC |
| 内容类型 | 期刊论文 |
| URI标识 | http://www.corc.org.cn/handle/1471x/6561876 |
| 专题 | 北京航空航天大学 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 杨洁青,欧乃铭,张新宇,等. 用于电磁检测的综合孔径辐射计成像研究[J]. 电子测量技术,2013:41-47. |
| APA | 杨洁青,欧乃铭,张新宇,&白明.(2013).用于电磁检测的综合孔径辐射计成像研究.电子测量技术,41-47. |
| MLA | 杨洁青,et al."用于电磁检测的综合孔径辐射计成像研究".电子测量技术 (2013):41-47. |
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