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	The Numerical Control Device Reliability Based on Bayesian Approach
	Li, Binquan
	2014
会议名称	International Conference on Mechatronics Engineering and Computing Technology (ICMECT)
会议日期	2014-01-01
会议地点	Shanghai, PEOPLES R CHINA
关键词	numerical control device Markov chain Monte Carlo (MCMC) method Bayesian reliability Metropolis-Hastings algorithm
卷号	556-562
页码	2515-2518
收录类别	EI ; CPCI-S
URL标识	查看原文
WOS记录号	WOS:000349448503110
内容类型	会议论文
URI标识	http://www.corc.org.cn/handle/1471x/6552023
专题	北京航空航天大学
推荐引用方式 GB/T 7714	Li, Binquan. The Numerical Control Device Reliability Based on Bayesian Approach[C]. 见:International Conference on Mechatronics Engineering and Computing Technology (ICMECT). Shanghai, PEOPLES R CHINA. 2014-01-01.

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