Variation-Tolerant High-Reliability Sensing Scheme for Deep Submicrometer STT-MRAM | |
Kang, Wang; Li, Zheng; Wang, Zhaohao; Deng, Erya; Klein, Jacques-Olivier; Zhang, Youguang; Chappert, Claude; Ravelosona, Dafine; Zhao, Weisheng | |
2014 | |
会议名称 | IEEE TRANSACTIONS ON MAGNETICS |
会议日期 | 2014-11-01 |
关键词 | High reliability nonvolatile process variation sensing circuit spin-transfer torgue magnetic RAM (STT-MRAM) |
卷号 | 50 |
收录类别 | CPCI-S |
URL标识 | 查看原文 |
WOS记录号 | WOS:000349465900228 |
内容类型 | 会议论文 |
URI标识 | http://www.corc.org.cn/handle/1471x/6551731 |
专题 | 北京航空航天大学 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | Kang, Wang,Li, Zheng,Wang, Zhaohao,et al. Variation-Tolerant High-Reliability Sensing Scheme for Deep Submicrometer STT-MRAM[C]. 见:IEEE TRANSACTIONS ON MAGNETICS. 2014-11-01. |
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