| On-Chip EMI Monitoring for Integrated Circuits of 55nm and below Technologies | |
| Wang, Xiaoxiao; Su, Donglin | |
| 2014 | |
| 会议名称 | 2014 XXXITH URSI GENERAL ASSEMBLY AND SCIENTIFIC SYMPOSIUM (URSI GASS) |
| 会议日期 | 2014-01-01 |
| 关键词 | Electromagnetic Interference (EMI) IC Power Supply Noise On Chip fig On-Chip Sensor |
| 收录类别 | EI ; CPCI-S |
| URL标识 | 查看原文 |
| WOS记录号 | WOS:000366628701179 |
| 内容类型 | 会议论文 |
| URI标识 | http://www.corc.org.cn/handle/1471x/6550658 |
| 专题 | 北京航空航天大学 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | Wang, Xiaoxiao,Su, Donglin. On-Chip EMI Monitoring for Integrated Circuits of 55nm and below Technologies[C]. 见:2014 XXXITH URSI GENERAL ASSEMBLY AND SCIENTIFIC SYMPOSIUM (URSI GASS). 2014-01-01. |
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