| 微波设备表面电磁泄漏位置检测方法研究 | |
| 白明; 欧乃铭; 苗俊刚 | |
| 刊名 | 电子学报
 |
| 2015 | |
| 卷号 | 43页码:1224-1230 |
| 关键词 | 电磁泄漏 微波设备 成像 综合孔径 数字透镜 物理透镜 |
| ISSN号 | 0372-2112 |
| DOI | 10.3969/j.issn.0372-2112.2015.06.028 |
| URL标识 | 查看原文 |
| 收录类别 | EI ; PKUISTICCSCD |
| 内容类型 | 期刊论文 |
| URI标识 | http://www.corc.org.cn/handle/1471x/6539129 |
| 专题 | 北京航空航天大学 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 白明,欧乃铭,苗俊刚. 微波设备表面电磁泄漏位置检测方法研究[J]. 电子学报,2015,43:1224-1230. |
| APA | 白明,欧乃铭,&苗俊刚.(2015).微波设备表面电磁泄漏位置检测方法研究.电子学报,43,1224-1230. |
| MLA | 白明,et al."微波设备表面电磁泄漏位置检测方法研究".电子学报 43(2015):1224-1230. |
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