Accelerated Degradation Testing of Coating of PCB under Humid Heat Env | |
Ren, Xiaoming; Wang, Xiaohui; Zhu, Run | |
2015 | |
会议名称 | 2015 61ST ANNUAL RELIABILITY AND MAINTAINABILITY SYMPOSIUM (RAMS 2015) |
会议日期 | 2015-01-01 |
关键词 | Accelerated degradation testing failure time humid heat environment Parylene C |
卷号 | 2015-May |
收录类别 | EI ; CPCI-S |
URL标识 | 查看原文 |
WOS记录号 | WOS:000370748300038 |
内容类型 | 会议论文 |
URI标识 | http://www.corc.org.cn/handle/1471x/6536755 |
专题 | 北京航空航天大学 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | Ren, Xiaoming,Wang, Xiaohui,Zhu, Run. Accelerated Degradation Testing of Coating of PCB under Humid Heat Env[C]. 见:2015 61ST ANNUAL RELIABILITY AND MAINTAINABILITY SYMPOSIUM (RAMS 2015). 2015-01-01. |
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