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	一种定量测量细晶材料超塑变形中晶界滑移贡献的方法
	马宗义 and 刘峰超
	2011-03-30
专利国别	中国
专利类型	发明专利
权利人	中国科学院金属研究所
中文摘要	本发明涉及金属材料领域,特别提供了一种定量测量细晶材料超塑变形中晶界滑移贡献的方法,解决划痕相对于晶粒尺寸太宽,无法满足定量测量的需要等问题,适用于各种金属材料,包括铝合金、镁合金、锌合金、铜合金、钢铁及金属基复合材料。将拉伸样品表面通过机械或化学方法抛光后,使用纳米压痕仪在样品表面划刻出适当尺寸的划痕,划痕标记线宽度小于晶粒尺寸,标记线平行于拉伸方向；然后进行超塑性拉伸,根据变形后样品表面划痕的偏移量、晶粒尺寸及拉伸变形量,定量计算晶界滑移在细晶材料超塑性变形中的贡献。因此,本发明在超塑性变形研究方面将有着广阔的应用前景。
公开日期	2011-03-30
语种	中文
专利申请号	CN101995378A
内容类型	专利
源URL	[http://210.72.142.130/handle/321006/66725]
专题	金属研究所_中国科学院金属研究所
推荐引用方式 GB/T 7714	马宗义 and 刘峰超. 一种定量测量细晶材料超塑变形中晶界滑移贡献的方法. 2011-03-30.

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