| 基于自相关法的双色激光散斑测量表面粗糙度研究 | |
| 黄静; 张艳华; 黄喜; 吴媛媛 | |
| 2011 | |
| 卷号 | 29期号:4页码:76-79 |
| 关键词 | 自相关法 表面粗糙度 相关长度 |
| URL标识 | 查看原文 |
| 内容类型 | 期刊论文 |
| URI标识 | http://www.corc.org.cn/handle/1471x/6481401 |
| 专题 | 贵州大学 |
| 作者单位 | 1.[1]贵州大学理学院,贵州贵阳550025 2.[2]桂林电子科技大学电子工程学院,广西桂林541004 3.[3]贵州民族学院科研处,贵州贵阳550025 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 黄静,张艳华,黄喜,等. 基于自相关法的双色激光散斑测量表面粗糙度研究[J],2011,29(4):76-79. |
| APA | 黄静,张艳华,黄喜,&吴媛媛.(2011).基于自相关法的双色激光散斑测量表面粗糙度研究.,29(4),76-79. |
| MLA | 黄静,et al."基于自相关法的双色激光散斑测量表面粗糙度研究".29.4(2011):76-79. |
| 个性服务 |
| 查看访问统计 |
| 相关权益政策 |
| 暂无数据 |
| 收藏/分享 |
除非特别说明，本系统中所有内容都受版权保护，并保留所有权利。
修改评论