有效折射率微扰法研究单缺陷光子晶体平板微腔的性质

	有效折射率微扰法研究单缺陷光子晶体平板微腔的性质
	周文飞,叶小玲,徐波,张世著,王占国
刊名	物理学报
	2012
卷号	61 期号:5 页码:054202-1-054202-8
学科主题	半导体材料
收录类别	CSCD
语种	中文
公开日期	2013-05-29
内容类型	期刊论文
源URL	[http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/24113]
专题	半导体研究所_中科院半导体材料科学重点实验室
推荐引用方式 GB/T 7714	周文飞,叶小玲,徐波,张世著,王占国. 有效折射率微扰法研究单缺陷光子晶体平板微腔的性质[J]. 物理学报,2012,61(5):054202-1-054202-8.
APA	周文飞,叶小玲,徐波,张世著,王占国.(2012).有效折射率微扰法研究单缺陷光子晶体平板微腔的性质.物理学报,61(5),054202-1-054202-8.
MLA	周文飞,叶小玲,徐波,张世著,王占国."有效折射率微扰法研究单缺陷光子晶体平板微腔的性质".物理学报 61.5(2012):054202-1-054202-8.