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	Cr2O3对（Co，Ta）掺杂的SnO2压敏电阻电学特性的影响
	臧国忠[1]; 王矜奉[1]; 陈洪存[1]; 苏文斌[1]; 王文新[1]; 亓鹏[1]; 王春明[1]
刊名	科技通讯（上海）
	2004
期号	01
关键词	压敏电阻 二氧化锡 势垒高度 非线性系数 电学性质
URL标识	查看原文
内容类型	期刊论文
URI标识	http://www.corc.org.cn/handle/1471x/6332512
专题	山东大学
作者单位	山东大学物理与微电子学院,济南,250100,中国
推荐引用方式 GB/T 7714	臧国忠[1],王矜奉[1],陈洪存[1],等. Cr2O3对（Co，Ta）掺杂的SnO2压敏电阻电学特性的影响[J]. 科技通讯（上海）,2004(01).
APA	臧国忠[1].,王矜奉[1].,陈洪存[1].,苏文斌[1].,王文新[1].,...&王春明[1].(2004).Cr2O3对（Co，Ta）掺杂的SnO2压敏电阻电学特性的影响.科技通讯（上海）(01).
MLA	臧国忠[1],et al."Cr2O3对（Co，Ta）掺杂的SnO2压敏电阻电学特性的影响".科技通讯（上海） .01(2004).

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