质子激发X荧光分析法测定比对粉末发样中的微量元素

	质子激发X荧光分析法测定比对粉末发样中的微量元素
	张元勋 ; 汪学朋 ; 谈明光
刊名	微量元素
	1988
期号	01
中文摘要	<正> 质子激发 X 射线荧光分析法(PIXE)是近年来迅速发展的核分析技术;由于该方法取样量少、快速、准确、灵敏度高、具有多元素同时分析优点;特别适合于生物样品中微量元素的分析研究。本工作介绍用 PIXE 法测定比对粉末发样中 K、Ca、Cr、Mn、Fe、Ni、Cu、Zn 和 Pb 九种微量元素含量的实验技术。
收录类别	CNKI
语种	中文
公开日期	2013-01-23
内容类型	期刊论文
源URL	[http://ir.sinap.ac.cn/handle/331007/12429]
专题	上海应用物理研究所_中科院上海原子核所2003年前
推荐引用方式 GB/T 7714	张元勋,汪学朋,谈明光. 质子激发X荧光分析法测定比对粉末发样中的微量元素[J]. 微量元素,1988(01).
APA	张元勋,汪学朋,&谈明光.(1988).质子激发X荧光分析法测定比对粉末发样中的微量元素.微量元素(01).
MLA	张元勋,et al."质子激发X荧光分析法测定比对粉末发样中的微量元素".微量元素 .01(1988).