Structure Properties of MgxZn1-xO Films Deposited at Low Temperature | |
张锡健[1]; 马洪磊[1]; 王卿璞[1]; 马谨[1]; 宗福建[1]; 肖洪地[1]; 计峰[1] | |
刊名 | 中国物理快报:英文版
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2005 | |
卷号 | 22期号:4页码:995-997 |
关键词 | 结构性质 MGXZN1-XO 薄膜沉降 低温条件 |
URL标识 | 查看原文 |
内容类型 | 期刊论文 |
URI标识 | http://www.corc.org.cn/handle/1471x/6319656 |
专题 | 山东大学 |
作者单位 | SchoolofPhysicsandMicroelectronics,ShandongUniversity,Jinan250100 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 张锡健[1],马洪磊[1],王卿璞[1],et al. Structure Properties of MgxZn1-xO Films Deposited at Low Temperature[J]. 中国物理快报:英文版,2005,22(4):995-997. |
APA | 张锡健[1].,马洪磊[1].,王卿璞[1].,马谨[1].,宗福建[1].,...&计峰[1].(2005).Structure Properties of MgxZn1-xO Films Deposited at Low Temperature.中国物理快报:英文版,22(4),995-997. |
MLA | 张锡健[1],et al."Structure Properties of MgxZn1-xO Films Deposited at Low Temperature".中国物理快报:英文版 22.4(2005):995-997. |
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