XYH-86小面积X荧光涂层测厚仪

	XYH-86小面积X荧光涂层测厚仪
	乐安全 ; 林金锌 ; 朱节清 ; 谷英梅 ; 顾连学 ; 韩发生 ; 徐君权 ; 王裕政 ; 王志芳
刊名	核技术
	1991-09-28
期号	09
中文摘要	本仪器利用X射线荧光分析原理和微机技术研制而成的。以小型X射线管作激发源;射线用小孔准直;样品用光学定位;样品最小测量面直径为0.1mm。微机多道实时显示能谱。它能快速、精确、无损测量多种微小面积上的单、双涂层厚度和合金涂层厚度及成分;结果由屏幕显示并打印输出;还能作统计处理。
收录类别	CNKI
语种	中文
公开日期	2013-01-23
内容类型	期刊论文
源URL	[http://ir.sinap.ac.cn/handle/331007/11043]
专题	上海应用物理研究所_中科院上海原子核所2003年前
推荐引用方式 GB/T 7714	乐安全,林金锌,朱节清,等. XYH-86小面积X荧光涂层测厚仪[J]. 核技术,1991(09).
APA	乐安全.,林金锌.,朱节清.,谷英梅.,顾连学.,...&王志芳.(1991).XYH-86小面积X荧光涂层测厚仪.核技术(09).
MLA	乐安全,et al."XYH-86小面积X荧光涂层测厚仪".核技术 .09(1991).