Sr引起的(Co,Ta)掺杂SnO_2压敏陶瓷的晶粒尺寸效应(英文) | |
王矜奉,陈洪存,苏文斌,臧国忠,王春明 | |
刊名 | 电子元件与材料
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2005 | |
期号 | 07页码:1-4 |
关键词 | 电子技术 碳酸锶 二氧化锡 压敏电阻 电学性质 |
URL标识 | 查看原文 |
内容类型 | 期刊论文 |
URI标识 | http://www.corc.org.cn/handle/1471x/6309109 |
专题 | 山东大学 |
作者单位 | 山东大学物理与微电子学院晶体材料国家重点实验室,山东大学物理与微电子学院晶体材料国家重点实验室,山东大学物理与微电子 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 王矜奉,陈洪存,苏文斌,臧国忠,王春明. Sr引起的(Co,Ta)掺杂SnO_2压敏陶瓷的晶粒尺寸效应(英文)[J]. 电子元件与材料,2005(07):1-4. |
APA | 王矜奉,陈洪存,苏文斌,臧国忠,王春明.(2005).Sr引起的(Co,Ta)掺杂SnO_2压敏陶瓷的晶粒尺寸效应(英文).电子元件与材料(07),1-4. |
MLA | 王矜奉,陈洪存,苏文斌,臧国忠,王春明."Sr引起的(Co,Ta)掺杂SnO_2压敏陶瓷的晶粒尺寸效应(英文)".电子元件与材料 .07(2005):1-4. |
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