| 金属磁记忆传感器封装技术 | |
| 张广伟; 张来斌; 樊建春; 孙秉才; 齐立娟; 赵坤鹏; 张仁庆 | |
| 刊名 | 无损检测
 |
| 2013 | |
| 页码 | 56-60 |
| 关键词 | 金属磁记忆 传感器 封装 压力试验 |
| ISSN号 | 1000-6656 |
| URL标识 | 查看原文 |
| 收录类别 | ISTIC |
| 内容类型 | 期刊论文 |
| URI标识 | http://www.corc.org.cn/handle/1471x/6307724 |
| 专题 | 中国石油大学（北京） |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 张广伟,张来斌,樊建春,等. 金属磁记忆传感器封装技术[J]. 无损检测,2013:56-60. |
| APA | 张广伟.,张来斌.,樊建春.,孙秉才.,齐立娟.,...&张仁庆.(2013).金属磁记忆传感器封装技术.无损检测,56-60. |
| MLA | 张广伟,et al."金属磁记忆传感器封装技术".无损检测 (2013):56-60. |
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