CORC  > 中国石油大学(北京)
用HXCF测量物质X射线质量衰减系数
张帅; 吴冲; 吴金杰; 霍彬彬; 李婷; 李承泽
刊名计量学报
2016
卷号37页码:79-81
关键词计量学 X射线 质量衰减系数 HXCF
ISSN号1000-1158
DOI10.3969/j.issn.1000-1158.2016.z1.18
URL标识查看原文
收录类别PKUISTIC
内容类型期刊论文
URI标识http://www.corc.org.cn/handle/1471x/6273866
专题中国石油大学(北京)
推荐引用方式
GB/T 7714
张帅,吴冲,吴金杰,等. 用HXCF测量物质X射线质量衰减系数[J]. 计量学报,2016,37:79-81.
APA 张帅,吴冲,吴金杰,霍彬彬,李婷,&李承泽.(2016).用HXCF测量物质X射线质量衰减系数.计量学报,37,79-81.
MLA 张帅,et al."用HXCF测量物质X射线质量衰减系数".计量学报 37(2016):79-81.
个性服务
查看访问统计
相关权益政策
暂无数据
收藏/分享
所有评论 (0)
暂无评论
 

除非特别说明,本系统中所有内容都受版权保护,并保留所有权利。


©版权所有 ©2017 CSpace - Powered by CSpace