用HXCF测量物质X射线质量衰减系数 | |
张帅; 吴冲; 吴金杰; 霍彬彬; 李婷; 李承泽 | |
刊名 | 计量学报
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2016 | |
卷号 | 37页码:79-81 |
关键词 | 计量学 X射线 质量衰减系数 HXCF |
ISSN号 | 1000-1158 |
DOI | 10.3969/j.issn.1000-1158.2016.z1.18 |
URL标识 | 查看原文 |
收录类别 | PKUISTIC |
内容类型 | 期刊论文 |
URI标识 | http://www.corc.org.cn/handle/1471x/6273866 |
专题 | 中国石油大学(北京) |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 张帅,吴冲,吴金杰,等. 用HXCF测量物质X射线质量衰减系数[J]. 计量学报,2016,37:79-81. |
APA | 张帅,吴冲,吴金杰,霍彬彬,李婷,&李承泽.(2016).用HXCF测量物质X射线质量衰减系数.计量学报,37,79-81. |
MLA | 张帅,et al."用HXCF测量物质X射线质量衰减系数".计量学报 37(2016):79-81. |
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