| 微结构对单根Ni/NiO核壳纳米线器件阻变性能的影响 | |
| 刘圆; 相文峰; 张家奇; 胡明皓; 赵昆; 钟寿仙 | |
| 刊名 | 微纳电子技术
 |
| 2017 | |
| 卷号 | 54页码:11-15,37 |
| 关键词 | Ni/NiO核壳纳米线 阻变存储器 微结构 退火温度 热处理 |
| ISSN号 | 1671-4776 |
| DOI | 10.13250/j.cnki.wndz.2017.01.002 |
| URL标识 | 查看原文 |
| 收录类别 | PKU |
| 内容类型 | 期刊论文 |
| URI标识 | http://www.corc.org.cn/handle/1471x/6264415 |
| 专题 | 中国石油大学（北京） |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 刘圆,相文峰,张家奇,等. 微结构对单根Ni/NiO核壳纳米线器件阻变性能的影响[J]. 微纳电子技术,2017,54:11-15,37. |
| APA | 刘圆,相文峰,张家奇,胡明皓,赵昆,&钟寿仙.(2017).微结构对单根Ni/NiO核壳纳米线器件阻变性能的影响.微纳电子技术,54,11-15,37. |
| MLA | 刘圆,et al."微结构对单根Ni/NiO核壳纳米线器件阻变性能的影响".微纳电子技术 54(2017):11-15,37. |
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