氧化钇稳定二氧化锆(YSZ)微波烧结陶瓷的复阻抗谱分析

	氧化钇稳定二氧化锆(YSZ)微波烧结陶瓷的复阻抗谱分析
	常爱民
	2004
会议名称	第五届中国功能材料及其应用学术会议
会议日期	2004
会议地点	秦皇岛
中文摘要	研究了8molY<,2>O<,3>掺杂ZrO<,2>(8YSZ)材料微波烧结陶瓷在300~850℃温度范围内的交流复阻抗谱,获得了该材料的温度-离子电导率曲线,并与常规烧结的陶瓷体进行了比较.结果发现8YSZ的微波烧结陶瓷的晶界势垒在550℃被击穿,常规烧结陶瓷的晶界势垒在500℃被击穿.击穿后晶界电阻消失,离子电导率的变化主要由晶粒电导率的变化决定.在击穿温度点以下,陶瓷体的离子电导率随温度的升高呈波浪式上升,即曲线呈上升~下降~上升趋势.
会议主办者	中国仪器仪表学会中国金属学会中国稀土学会中国复合材料学会中国有色金属学会
语种	中文
内容类型	会议论文
源URL	[http://ir.xjipc.cas.cn/handle/365002/2401]
专题	新疆理化技术研究所_材料物理与化学研究室
推荐引用方式 GB/T 7714	常爱民. 氧化钇稳定二氧化锆(YSZ)微波烧结陶瓷的复阻抗谱分析[C]. 见:第五届中国功能材料及其应用学术会议. 秦皇岛. 2004.