不同电子能量辐照下偏置对运算放大器辐射效应的影响 | |
陆妩 | |
2011 | |
会议名称 | 2011第十四届全国可靠性物理学术讨论会 |
会议日期 | 2011 |
会议地点 | 苏州 |
中文摘要 | 本文介绍了LM837双极运算放大器在1.8Mev、1Mev,不同能量不同束流、相同能量不同束流的电子辐照下的辐射效应及常温退火特性。试验结果表明:1.8MeV电子能量辐照引起的LM837辐射损伤比1Mev明显;辐照过程中正偏条件下的偏置电流变化比零偏时微大;不同情况下辐照后的室温退火都表现出“后损伤”效应。本文对能量的不同、偏置的不同所导致的不同损伤机理进行了分析。 |
收录类别 | wanfang |
会议主办者 | 中国电子学会 广东省电子学会 广东省仪器仪表学会 |
语种 | 中文 |
内容类型 | 会议论文 |
源URL | [http://ir.xjipc.cas.cn/handle/365002/2310] |
专题 | 新疆理化技术研究所_材料物理与化学研究室 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 陆妩. 不同电子能量辐照下偏置对运算放大器辐射效应的影响[C]. 见:2011第十四届全国可靠性物理学术讨论会. 苏州. 2011. |
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