| 单光路量子效率测试系统 | |
| 刘 磊 ; 陈诺夫 ; 曾湘波 ; 张 汉 ; 吴金良 ; 高福宝 | |
| 2009-04-01 | |
| 专利国别 | 中国 |
| 专利类型 | 发明 |
| 权利人 | 中科院半导体研究所 |
| 英文摘要 | 于AD批量导入至AEzhangdi; 于AD批量导入至AEzhangdi |
| 公开日期 | 3990 ; 2010-10-15 |
| 申请日期 | 2007-09-26 |
| 语种 | 中文 |
| 专利申请号 | CN200610171658 |
| 专利代理 | 汤宝平 |
| 内容类型 | 专利 |
| 源URL | [http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/9182]  |
| 专题 | 半导体研究所_中国科学院半导体研究所（2009年前） |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 刘 磊,陈诺夫,曾湘波,等. 单光路量子效率测试系统. 2009-04-01. |
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