VG354质谱计离子源电离带低温测量设备及其应用

	VG354质谱计离子源电离带低温测量设备及其应用
	肖应凯 ; 魏海珍 ; 王庆忠 ; 张崇耿 ; 孙爱德
刊名	分析化学
	2002-10-25
期号	10 页码:1272-1276
关键词	质谱热离子发射温度测量
中文摘要	设计了一种用于VG 35 4型热电离质谱计电离带低温测量装置 (DWZZ)。它由热电偶温度计及连接件组装而成 ,能即时测定电离带的表面温度。测定的离子源中电离带的低温段温度与加热电流的关系可用关系式y =-ax3+bx2 -cx +d表示 ,温度测定的误差 <± 2℃。此装置已用于石墨非还原热离子发射特性和石墨存在下M2 BO+2 、M2 X+ 离子的发射机理的研究
语种	中文
公开日期	2013-01-23
内容类型	期刊论文
源URL	[http://ir.isl.ac.cn/handle/363002/453]
专题	青海盐湖研究所_青海盐湖研究所知识仓储
推荐引用方式 GB/T 7714	肖应凯,魏海珍,王庆忠,等. VG354质谱计离子源电离带低温测量设备及其应用[J]. 分析化学,2002(10):1272-1276.
APA	肖应凯,魏海珍,王庆忠,张崇耿,&孙爱德.(2002).VG354质谱计离子源电离带低温测量设备及其应用.分析化学(10),1272-1276.
MLA	肖应凯,et al."VG354质谱计离子源电离带低温测量设备及其应用".分析化学 .10(2002):1272-1276.