一种强磁场的霍尔效应测试装置及其测试方法
张攀峰 ; 吴洁君 ; 胡卫国 ; 刘祥林
2006-12-27
专利类型发明
英文摘要Submitted by zhangdi (zhangdi@red.semi.ac.cn) on 2009-06-04T08:36:34Z No. of bitstreams: 1 dspace.cfg: 33388 bytes, checksum: ac9630d3fdb36a155287a049e8b34eb7 (MD5); Made available in DSpace on 2009-06-04T08:36:35Z (GMT). No. of bitstreams: 1 dspace.cfg: 33388 bytes, checksum: ac9630d3fdb36a155287a049e8b34eb7 (MD5) Previous issue date: 2008-08; Made available in DSpace on 2009-06-11T08:58:04Z (GMT). No. of bitstreams: 1 full/200510011983.pdf: 575647 bytes, checksum: 0a14968fa9513718e24a01fed1af8798 (MD5) Previous issue date:
公开日期2009-06-04 ; 2009-06-11 ; 2010-10-15
申请日期2005-06-23
语种中文
专利申请号200510011983
内容类型专利
源URL[http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/3655]  
专题半导体研究所_中国科学院半导体研究所(2009年前)
推荐引用方式
GB/T 7714
张攀峰,吴洁君,胡卫国,等. 一种强磁场的霍尔效应测试装置及其测试方法. 2006-12-27.
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