SCHWARZSCHILD MICROSCOPE AT THE WAVELENGTH OF 18 NM USING A LASER-PRODUCED PLASMA SOURCE

	SCHWARZSCHILD MICROSCOPE AT THE WAVELENGTH OF 18 NM USING A LASER-PRODUCED PLASMA SOURCE
	Wang Z. S. ; Cao J. L. ; Chen B. ; Ma Y. Y. ; Zhang J. P. ; Chen X. D.
	1995
会议日期	1995
页码	582-589
收录类别	CPCI-S
会议录	X-Ray and Extreme Ultraviolet Optics
会议录出版者	Spie - Int Soc Optical Engineering
会议录出版地	Bellingham
语种	英语
ISBN号	0-8194-1874-9
内容类型	会议论文
源URL	[http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/35365]
专题	长春光学精密机械与物理研究所_中科院长春光机所知识产出_会议论文
推荐引用方式 GB/T 7714	Wang Z. S.,Cao J. L.,Chen B.,et al. SCHWARZSCHILD MICROSCOPE AT THE WAVELENGTH OF 18 NM USING A LASER-PRODUCED PLASMA SOURCE[C]. 见:. 1995.