| 用不同敏化方法提高超速测试的故障覆盖率 | |
| 魏建龙; 邝继顺 | |
| 刊名 | 计算机科学
 |
| 2014 | |
| 卷号 | 第41卷 第5期页码:55-58，90 |
| 关键词 | 小时延缺陷 单通路敏化 非强健测试 跳变时延故障覆盖率 超速测试 |
| ISSN号 | 1002-137X |
| URL标识 | 查看原文 |
| 公开日期 | [db:dc_date_available] |
| 内容类型 | 期刊论文 |
| URI标识 | http://www.corc.org.cn/handle/1471x/6097046 |
| 专题 | 湖南大学 |
| 作者单位 | 湖南大学信息科学与工程学院 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 魏建龙,邝继顺. 用不同敏化方法提高超速测试的故障覆盖率[J]. 计算机科学,2014,第41卷 第5期:55-58，90. |
| APA | 魏建龙,&邝继顺.(2014).用不同敏化方法提高超速测试的故障覆盖率.计算机科学,第41卷 第5期,55-58，90. |
| MLA | 魏建龙,et al."用不同敏化方法提高超速测试的故障覆盖率".计算机科学 第41卷 第5期(2014):55-58，90. |
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