基于光纤光栅的微波扫描单边带调制法测量光纤布里渊散射特性

	基于光纤光栅的微波扫描单边带调制法测量光纤布里渊散射特性
	任立勇; 马成举; 任立勇
刊名	中国激光
	2012-01
卷号	39 期号:1 页码:0105002
ISSN号	0258-7205
合作状况	国内
中文摘要	利用光纤布拉格光栅(FBG)和马赫-曾德尔电光调制器实现了单边带光调制输出。基于微波扫描的单边带调制技术提出了一种测量光纤受激布里渊散射(SBS)特性的方法,可有效地将布里渊频移与布里渊增益谱的测量统一起来。对一段50m长的光子晶体光纤(PCF)的SBS特性进行了测量,得到了PCF的SBS谱的布里渊频移为9.7443GHz,布里渊增益谱线宽为22.472MHz,布里渊增益系数为7.874×10-12 m/W。
学科主题	光学
收录类别	EI
语种	中文
公开日期	2013-03-27
内容类型	期刊论文
源URL	[http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/20571]
专题	西安光学精密机械研究所_瞬态光学技术国家重点实验室
推荐引用方式 GB/T 7714	任立勇,马成举,任立勇. 基于光纤光栅的微波扫描单边带调制法测量光纤布里渊散射特性[J]. 中国激光,2012,39(1):0105002.
APA	任立勇,马成举,&任立勇.(2012).基于光纤光栅的微波扫描单边带调制法测量光纤布里渊散射特性.中国激光,39(1),0105002.
MLA	任立勇,et al."基于光纤光栅的微波扫描单边带调制法测量光纤布里渊散射特性".中国激光 39.1(2012):0105002.