| 碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管短路特性 | |
| 王小浩，王俊，江希，彭志高，李宗鉴，沈征 | |
| 刊名 | 电源学报
 |
| 2016 | |
| 卷号 | 第14卷 第6期页码:53-57 |
| 关键词 | 短路测试 短路电流 短路能力 |
| ISSN号 | 2095-2805 |
| URL标识 | 查看原文 |
| 公开日期 | [db:dc_date_available] |
| 内容类型 | 期刊论文 |
| URI标识 | http://www.corc.org.cn/handle/1471x/6063131 |
| 专题 | 湖南大学 |
| 作者单位 | 湖南大学电气与信息工程学院 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 王小浩，王俊，江希，彭志高，李宗鉴，沈征. 碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管短路特性[J]. 电源学报,2016,第14卷 第6期:53-57. |
| APA | 王小浩，王俊，江希，彭志高，李宗鉴，沈征.(2016).碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管短路特性.电源学报,第14卷 第6期,53-57. |
| MLA | 王小浩，王俊，江希，彭志高，李宗鉴，沈征."碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管短路特性".电源学报 第14卷 第6期(2016):53-57. |
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