西红柿成熟度与电特性关系的无损检测研究

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	西红柿成熟度与电特性关系的无损检测研究
	郭文川 ; 朱新华 ; 周闯鹏 ; 张晓军
刊名	农业现代化研究
	2002
卷号	23 期号:6 页码:458-460
关键词	西红柿电特性成熟度无损检测
中文摘要	本文利用 L CR电桥测量仪和无损检测方法测定了不同成熟度 (青、微红和红 )西红柿的介电常数、等效阻抗、介质损耗因数等电特性。试验结果表明在加载频率一定时 ,随着成熟度的提高 ,西红柿的相对介电常数增大 ,等效阻抗减小。在 4 KHz— 15 0 KHz的频段内 ,随着加载频率的增大 ,等效阻抗减小 ,相对介电常数略有减小 ,介质损耗因数在 4 KHz— 2 0 KHz的频段内变化较小
原文出处	http://epub.cnki.net/grid2008/brief/detailj.aspx?filename=NXDH200206014&dbname=CJFQ2002
公开日期	2013-03-25
内容类型	期刊论文
源URL	[http://159.226.152.9/handle/343003/11152]
专题	亚热带农业生态研究所_其他_期刊论文
推荐引用方式 GB/T 7714	郭文川,朱新华,周闯鹏,等. 西红柿成熟度与电特性关系的无损检测研究[J]. 农业现代化研究,2002,23(6):458-460.
APA	郭文川,朱新华,周闯鹏,&张晓军.(2002).西红柿成熟度与电特性关系的无损检测研究.农业现代化研究,23(6),458-460.
MLA	郭文川,et al."西红柿成熟度与电特性关系的无损检测研究".农业现代化研究 23.6(2002):458-460.