基质去除型0.6瓦半导体薄片激光器
张鹏 ; 戴特力 ; 伍瑜 ; 倪演海 ; 周勇 ; 秦莉 ; 梁一平 ; 范嗣强
2012-04-20
会议地点中国广东深圳
关键词半导体薄片激光器 基质去除 高功率 光束质量
中文摘要报道了一种1015nm波长、高功率、高光束质量的InGaAs/GaAs量子阱半导体薄片激光器。半导体外延片采用反序生长:基质之上是窗口层,分布布拉格反射镜最后生长。然后外延片被倒过来,用毛细键合方法键合在一片SiC热沉上,再用化学腐蚀的方法去除基质。基质刻蚀之后的外延片总厚度小于10μm,这极大地改善了激光器的散热性能,从而在输出镜耦合输出率为3%、泵浦功率为3.2W时,获得了超过0.6W的激光输出功率。测量所得M2因子为1.02和1.01,显示了近衍射极限的良好光束质量。为了更进一步揭示这种基质去除型结构在热性能方面的特点,文章还数值分析了增益片中的热流及温度分布,并对相应的结果作了讨论。
收录类别中国会议
内容类型会议论文
源URL[http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/32914]  
专题长春光学精密机械与物理研究所_中科院长春光机所知识产出_会议论文
推荐引用方式
GB/T 7714
张鹏,戴特力,伍瑜,等. 基质去除型0.6瓦半导体薄片激光器[C]. 见:. 中国广东深圳.
个性服务
查看访问统计
相关权益政策
暂无数据
收藏/分享
所有评论 (0)
暂无评论
 

除非特别说明,本系统中所有内容都受版权保护,并保留所有权利。


©版权所有 ©2017 CSpace - Powered by CSpace