| 激光显微光谱法测定ITO导电膜中的Sn | |
| 郭庆林[1]; 杨志平[2] | |
| 刊名 | 光谱学与光谱分析
 |
| 1993 | |
| 卷号 | 13期号:6页码:57 |
| 关键词 | S-M法 ITO导电膜 |
| URL标识 | 查看原文 |
| 收录类别 | 中文核心期刊要目总览CSCD |
| WOS记录号 | WOS: |
| 内容类型 | 期刊论文 |
| URI标识 | http://www.corc.org.cn/handle/1471x/6019266 |
| 专题 | 河北大学 |
| 作者单位 | 河北大学 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 郭庆林[1],杨志平[2]. 激光显微光谱法测定ITO导电膜中的Sn[J]. 光谱学与光谱分析,1993,13(6):57. |
| APA | 郭庆林[1],&杨志平[2].(1993).激光显微光谱法测定ITO导电膜中的Sn.光谱学与光谱分析,13(6),57. |
| MLA | 郭庆林[1],et al."激光显微光谱法测定ITO导电膜中的Sn".光谱学与光谱分析 13.6(1993):57. |
| 个性服务 |
| 查看访问统计 |
| 相关权益政策 |
| 暂无数据 |
| 收藏/分享 |
除非特别说明，本系统中所有内容都受版权保护，并保留所有权利。
修改评论