| 蒙特卡罗-牛顿法进行电路产品合格率估计和最优中心设计 | |
| 于骁勇; 朱辉 | |
| 1986 | |
| 期号 | 3页码:169-179 |
| 关键词 | 产品合格率 排序法 理论分析 电路分析 牛顿法 估计值 元件参数 最优化方法 单连通 约束条件 |
| URL标识 | 查看原文 |
| 内容类型 | 期刊论文 |
| URI标识 | http://www.corc.org.cn/handle/1471x/6016743 |
| 专题 | 贵州大学 |
| 作者单位 | [1]贵州工学院电机系 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 于骁勇,朱辉. 蒙特卡罗-牛顿法进行电路产品合格率估计和最优中心设计[J],1986(3):169-179. |
| APA | 于骁勇,&朱辉.(1986).蒙特卡罗-牛顿法进行电路产品合格率估计和最优中心设计.(3),169-179. |
| MLA | 于骁勇,et al."蒙特卡罗-牛顿法进行电路产品合格率估计和最优中心设计"..3(1986):169-179. |
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