| 硫增感卤化银薄膜中光电子衰减行为的检测 | |
| 李晓苇[1]; 刘荣鹃[2]; 江晓利[3]; 陆晓东[4]; 赖卫东[5]; 杨少鹏[6]; 傅广生[7] | |
| 2003 | |
| 会议名称 | 第十届全国光电技术与系统学术会议 |
| 会议日期 | 2003-08-01 |
| 关键词 | 曝光 微波相敏检测 硫增感 光电子衰减 感光材料 卤化银薄膜 |
| 页码 | 126-132 |
| URL标识 | 查看原文 |
| WOS记录号 | WOS: |
| 内容类型 | 会议论文 |
| URI标识 | http://www.corc.org.cn/handle/1471x/6001658 |
| 专题 | 河北大学 |
| 作者单位 | [1]河北大学物理科学与技术学院(保定[2]河北大学物理科学与技术学院(保定[3]河北大学物理科学与技术学院(保定[4]河北大学物理科学与技术学院(保定[5]河北大学物理科学与技术学院(保定[6]河北大学物理科学与技术学院(保定[7]河北大学物理科学与技术学院(保定 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 李晓苇[1],刘荣鹃[2],江晓利[3],等. 硫增感卤化银薄膜中光电子衰减行为的检测[C]. 见:第十届全国光电技术与系统学术会议. 2003-08-01. |
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