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MgB2超导薄膜的微波测量
Wang, SF[1]; Jin, BB[2]; Liu, Z[3]; Zhou, YL[4]; Chen, ZH[5]; Li, HB[6]; Cheng, BL[7]; Yang, GZ[8]
刊名物理学报
2005
卷号54期号:5页码:2325-2328
关键词微波表面电阻 穿透深度 MgB2超导薄膜
ISSN号1000-3290
DOIhttp://dx.doi.org/10.3321/j.issn:1000-3290.2005.05.065
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收录类别SCI(E) ; 中文核心期刊要目总览CSCD
WOS记录号WOS:000229049900065
内容类型期刊论文
URI标识http://www.corc.org.cn/handle/1471x/5990582
专题河北大学
作者单位1.河北大学物理科学与技术学院,保定,071002
2.中国科学院物理研究所北京凝聚态物理国家实验室,北京,100080
3.Forchungszentrum Julich,Institute of Thin Films and Interfaces,D-5242Julich,Germany
4.中国科学院物理研究所北京凝聚态物理国家实验室,北京,100080
推荐引用方式
GB/T 7714
Wang, SF[1],Jin, BB[2],Liu, Z[3],等. MgB2超导薄膜的微波测量[J]. 物理学报,2005,54(5):2325-2328.
APA Wang, SF[1].,Jin, BB[2].,Liu, Z[3].,Zhou, YL[4].,Chen, ZH[5].,...&Yang, GZ[8].(2005).MgB2超导薄膜的微波测量.物理学报,54(5),2325-2328.
MLA Wang, SF[1],et al."MgB2超导薄膜的微波测量".物理学报 54.5(2005):2325-2328.
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