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Ar环境气压对脉冲激光烧蚀制备纳米Si晶粒平均尺寸的影响
Wang, YL[1]; Zhou, Y[2]; Chu, LZ[3]; Fu, GS[4]; Peng, YC[5]
刊名物理学报
2005
卷号54期号:4页码:1683-1686
关键词纳米Si晶粒 脉冲激光烧蚀 表面形貌
ISSN号1000-3290
DOIhttp://dx.doi.org/10.3321/j.issn:1000-3290.2005.04.038
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收录类别SCI(E) ; 中文核心期刊要目总览CSCD
WOS记录号WOS:000228510600038
内容类型期刊论文
URI标识http://www.corc.org.cn/handle/1471x/5990467
专题河北大学
作者单位1.河北大学物理科学与技术学院,保定,071002
2.河北大学电子信息工程学院,保定,071002
推荐引用方式
GB/T 7714
Wang, YL[1],Zhou, Y[2],Chu, LZ[3],等. Ar环境气压对脉冲激光烧蚀制备纳米Si晶粒平均尺寸的影响[J]. 物理学报,2005,54(4):1683-1686.
APA Wang, YL[1],Zhou, Y[2],Chu, LZ[3],Fu, GS[4],&Peng, YC[5].(2005).Ar环境气压对脉冲激光烧蚀制备纳米Si晶粒平均尺寸的影响.物理学报,54(4),1683-1686.
MLA Wang, YL[1],et al."Ar环境气压对脉冲激光烧蚀制备纳米Si晶粒平均尺寸的影响".物理学报 54.4(2005):1683-1686.
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