| 镶嵌有纳米硅的氮化硅薄膜键合特性分析 | |
| Ding Wen-ge[1]; Yu Wei[2]; Yang Yan-bin[3]; Zhang Jiang-yong[4]; Fu Guang-sheng[5] | |
| 刊名 | 光谱学与光谱分析
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| 2006 | |
| 卷号 | 26期号:10页码:1798-1801 |
| 关键词 | Raman谱 FTIR谱 光吸收谱 纳米硅颗粒镶嵌薄膜 |
| ISSN号 | 1000-0593 |
| DOI | http://dx.doi.org/10.3321/j.issn:1000-0593.2006.10.006 |
| URL标识 | 查看原文 |
| 收录类别 | SCI(E) ; PubMed ; 中文核心期刊要目总览CSCD |
| WOS记录号 | WOS:000241751800006 |
| 内容类型 | 期刊论文 |
| URI标识 | http://www.corc.org.cn/handle/1471x/5982634 |
| 专题 | 河北大学 |
| 作者单位 | 河北大学物理科学与技术学院,河北,保定,071002 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | Ding Wen-ge[1],Yu Wei[2],Yang Yan-bin[3],等. 镶嵌有纳米硅的氮化硅薄膜键合特性分析[J]. 光谱学与光谱分析,2006,26(10):1798-1801. |
| APA | Ding Wen-ge[1],Yu Wei[2],Yang Yan-bin[3],Zhang Jiang-yong[4],&Fu Guang-sheng[5].(2006).镶嵌有纳米硅的氮化硅薄膜键合特性分析.光谱学与光谱分析,26(10),1798-1801. |
| MLA | Ding Wen-ge[1],et al."镶嵌有纳米硅的氮化硅薄膜键合特性分析".光谱学与光谱分析 26.10(2006):1798-1801. |
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