QQ客服 官方微博 反馈留言

	基于BH5001的单芯片小电容检测系统
	谢作政; 陈进军
	2009
卷号	8期号:27页码:54-55
关键词	差动电容 倾角 单芯片 BH5001
URL标识	查看原文
内容类型	期刊论文
URI标识	http://www.corc.org.cn/handle/1471x/5978492
专题	贵州大学
作者单位	[1]贵州大学电气工程学院,贵州贵阳550003
推荐引用方式 GB/T 7714	谢作政,陈进军. 基于BH5001的单芯片小电容检测系统[J],2009,8(27):54-55.
APA	谢作政,&陈进军.(2009).基于BH5001的单芯片小电容检测系统.,8(27),54-55.
MLA	谢作政,et al."基于BH5001的单芯片小电容检测系统".8.27(2009):54-55.

个性服务

查看访问统计

相关权益政策

暂无数据

收藏/分享

除非特别说明，本系统中所有内容都受版权保护，并保留所有权利。