CORC  > 河北大学
掺硼纳米晶粒多晶Si薄膜的结构特征与电学特性
彭英才[1]; 康建波[2]; 马蕾[3]; 张雷[4]; 王侠[5]; 范志东[6]
刊名人工晶体学报
2008
卷号37期号:2页码:471-474,465
关键词LPCVD nc-poly-si(B)薄膜 结构特征 热退火 电学性质
ISSN号1000-985X
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收录类别中文核心期刊要目总览CSCD
WOS记录号WOS:
内容类型期刊论文
URI标识http://www.corc.org.cn/handle/1471x/5966050
专题河北大学
作者单位1.[1]河北大学电子信息工程学院,保定,071002
2.中国科学院半导体研究所半导体材料科学重点实验室,北京,100083[2]河北大学电子信息工程学院,保定,071002[3]河北大学电子信息工程学院,保定,071002[4]河北大学电子信息工程学院,保定,071002[5]河北大学电子信息工程学院,保定,071002[6]河北大学电子信息工程学院,保定,071002
推荐引用方式
GB/T 7714
彭英才[1],康建波[2],马蕾[3],等. 掺硼纳米晶粒多晶Si薄膜的结构特征与电学特性[J]. 人工晶体学报,2008,37(2):471-474,465.
APA 彭英才[1],康建波[2],马蕾[3],张雷[4],王侠[5],&范志东[6].(2008).掺硼纳米晶粒多晶Si薄膜的结构特征与电学特性.人工晶体学报,37(2),471-474,465.
MLA 彭英才[1],et al."掺硼纳米晶粒多晶Si薄膜的结构特征与电学特性".人工晶体学报 37.2(2008):471-474,465.
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