| Extraction of Parasitic Parameters from Silicon Carbide Power Converter Using Multi-Resolution Analysis Method | |
| Yin, Yitong; Oladele, Olanrewaju Kabir; Hua, Chengchao; Lin, Huapeng; Hu, Xuanyang | |
| 2017 | |
| 会议名称 | 2017 IEEE TRANSPORTATION ELECTRIFICATION CONFERENCE AND EXPO, ASIA-PACIFIC (ITEC ASIA-PACIFIC) |
| 会议日期 | 2017-01-01 |
| 关键词 | SiC power converter parasitic parameter extraction boundary analysis multi-resolution analysis |
| 页码 | 1155-1160 |
| 收录类别 | CPCI-S |
| URL标识 | 查看原文 |
| WOS记录号 | WOS:000426996500206 |
| 内容类型 | 会议论文 |
| URI标识 | http://www.corc.org.cn/handle/1471x/5944772 |
| 专题 | 北京航空航天大学 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | Yin, Yitong,Oladele, Olanrewaju Kabir,Hua, Chengchao,et al. Extraction of Parasitic Parameters from Silicon Carbide Power Converter Using Multi-Resolution Analysis Method[C]. 见:2017 IEEE TRANSPORTATION ELECTRIFICATION CONFERENCE AND EXPO, ASIA-PACIFIC (ITEC ASIA-PACIFIC). 2017-01-01. |
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