CORC  > 北京航空航天大学
Coupling damage and reliability modeling for creep and fatigue of solder joint
Chen, Yunxia; Jin, Yi; Kang, Rui
2017
会议名称Prognostics and System Health Management Conference (PHM)
会议日期2017-08-01
会议地点Chengdu, PEOPLES R CHINA
关键词Low-cycle fatigue Creep Reliability Strain rate Damage
卷号75
页码233-238
收录类别CPCI-S
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WOS记录号WOS:000409291200029
内容类型会议论文
URI标识http://www.corc.org.cn/handle/1471x/5936500
专题北京航空航天大学
推荐引用方式
GB/T 7714
Chen, Yunxia,Jin, Yi,Kang, Rui. Coupling damage and reliability modeling for creep and fatigue of solder joint[C]. 见:Prognostics and System Health Management Conference (PHM). Chengdu, PEOPLES R CHINA. 2017-08-01.
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