Coupling damage and reliability modeling for creep and fatigue of solder joint | |
Chen, Yunxia; Jin, Yi; Kang, Rui | |
2017 | |
会议名称 | Prognostics and System Health Management Conference (PHM) |
会议日期 | 2017-08-01 |
会议地点 | Chengdu, PEOPLES R CHINA |
关键词 | Low-cycle fatigue Creep Reliability Strain rate Damage |
卷号 | 75 |
页码 | 233-238 |
收录类别 | CPCI-S |
URL标识 | 查看原文 |
WOS记录号 | WOS:000409291200029 |
内容类型 | 会议论文 |
URI标识 | http://www.corc.org.cn/handle/1471x/5936500 |
专题 | 北京航空航天大学 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | Chen, Yunxia,Jin, Yi,Kang, Rui. Coupling damage and reliability modeling for creep and fatigue of solder joint[C]. 见:Prognostics and System Health Management Conference (PHM). Chengdu, PEOPLES R CHINA. 2017-08-01. |
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