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	Van der Waals integration of silicene and hexagonal boron nitride
	Wiggers, F. B.; Fleurence, A.; Aoyagi, K.; Yonezawa, T.; Yamada-Takamura, Y.; Feng, H.; Zhuang, J.; Du, Y.; Kovalgin, A. Y.; de Jong, M. P.
刊名	2D MATERIALS
	2019
卷号	6
关键词	silicene hexagonal boron nitride scanning tunneling microscopy angle resolved photoelectron spectroscopy
ISSN号	2053-1583
DOI	10.1088/2053-1583/ab0a29
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收录类别	SCIE ; EI
WOS记录号	WOS:000491270400001
内容类型	期刊论文
URI标识	http://www.corc.org.cn/handle/1471x/5919337
专题	北京航空航天大学
推荐引用方式 GB/T 7714	Wiggers, F. B.,Fleurence, A.,Aoyagi, K.,et al. Van der Waals integration of silicene and hexagonal boron nitride[J]. 2D MATERIALS,2019,6.
APA	Wiggers, F. B..,Fleurence, A..,Aoyagi, K..,Yonezawa, T..,Yamada-Takamura, Y..,...&de Jong, M. P..(2019).Van der Waals integration of silicene and hexagonal boron nitride.2D MATERIALS,6.
MLA	Wiggers, F. B.,et al."Van der Waals integration of silicene and hexagonal boron nitride".2D MATERIALS 6(2019).

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