液相色谱/大气压化学电离飞行时间质谱分析氢化可的松中微量杂质

	液相色谱/大气压化学电离飞行时间质谱分析氢化可的松中微量杂质; Trace impurities analysis of hydrocortisonum by LC/APCI MS
	张芳 ; 耿昱 ; 郭寅龙
刊名	有机化学
	2002-01-01
卷号	22 期号:2 页码:123-126
ISSN号	0253-2786
其他题名	Trace impurities analysis of hydrocortisonum by LC/APCI MS
通讯作者	郭寅龙
中文摘要	采用液相色谱/大气压化学电离飞行时间质谱测定氢化可的松对照品中微量杂质, 并采用源内碰撞诱导解离质谱进行了结构定性分析. 方法简单, 可靠, 重现性好.
学科主题	分析化学
收录类别	SCI
语种	中文
公开日期	2013-02-25
内容类型	期刊论文
源URL	[http://ir.sioc.ac.cn/handle/331003/19832]
专题	上海有机化学研究所_分析化学研究室
推荐引用方式 GB/T 7714	张芳,耿昱,郭寅龙. 液相色谱/大气压化学电离飞行时间质谱分析氢化可的松中微量杂质, Trace impurities analysis of hydrocortisonum by LC/APCI MS[J]. 有机化学,2002,22(2):123-126.
APA	张芳,耿昱,&郭寅龙.(2002).液相色谱/大气压化学电离飞行时间质谱分析氢化可的松中微量杂质.有机化学,22(2),123-126.
MLA	张芳,et al."液相色谱/大气压化学电离飞行时间质谱分析氢化可的松中微量杂质".有机化学 22.2(2002):123-126.