氨化Si基Ga2O3/In制备GaN薄膜 | |
王福学[1]; 薛成山[1]; 庄惠照[1]; 张晓凯[1]; 艾玉杰[1]; 孙丽丽[1]; 杨兆柱[1]; 李红[1] | |
2007 | |
卷号 | 38期号:2页码:231-233 |
关键词 | GaN Ga2O3/In 氨化 磁控溅射 |
URL标识 | 查看原文 |
内容类型 | 期刊论文 |
URI标识 | http://www.corc.org.cn/handle/1471x/5798569 |
专题 | 山东师范大学 |
作者单位 | [1]山东师范大学半导体所,山东济南250014 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 王福学[1],薛成山[1],庄惠照[1],等. 氨化Si基Ga2O3/In制备GaN薄膜[J],2007,38(2):231-233. |
APA | 王福学[1].,薛成山[1].,庄惠照[1].,张晓凯[1].,艾玉杰[1].,...&李红[1].(2007).氨化Si基Ga2O3/In制备GaN薄膜.,38(2),231-233. |
MLA | 王福学[1],et al."氨化Si基Ga2O3/In制备GaN薄膜".38.2(2007):231-233. |
个性服务 |
查看访问统计 |
相关权益政策 |
暂无数据 |
收藏/分享 |
除非特别说明,本系统中所有内容都受版权保护,并保留所有权利。
修改评论