利用迹线测量晶体材料中特征面取向的EBSD方法

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	利用迹线测量晶体材料中特征面取向的EBSD方法
	谢季佳; 徐娟; 洪友士
刊名	电子显微学报
	2008-08-15
通讯作者邮箱	xiejj@lnm.imech.ac.cn
卷号	27 期号:4 页码:271-274
关键词	迹线晶体取向电子背散射衍射反极图
ISSN号	1000-6281
其他题名	EBSD method for identifying the crystalline orientation of special planes by measurement of traces on surface
通讯作者	谢季佳
中文摘要	本工作研究了从单一投影面测量块体晶体材料内部特征面的EBSD方法。首先对样品表面进行SEM观察并采集图像,利用图像分析软件测量各迹线在样品台坐标系的取向。然后进行EBSD扫描获得迹线两侧各晶粒对应的取向,进一步利用坐标变换关系计算出晶粒内部的特征面迹线在晶格坐标中的方向指数。最后将全部测量的迹线的极点标示到反极图中,并与各低指数晶面的大圆位置进行对比,重合度最高的晶面就是特征面最可能的晶体学取向面。
收录类别	CSCD
语种	中文
CSCD记录号	CSCD:3402238
公开日期	2009-08-03 ; 2010-08-20
内容类型	期刊论文
源URL	[http://dspace.imech.ac.cn/handle/311007/40822]
专题	力学研究所_力学所知识产出(1956-2008)
推荐引用方式 GB/T 7714	谢季佳,徐娟,洪友士. 利用迹线测量晶体材料中特征面取向的EBSD方法[J]. 电子显微学报,2008,27(4):271-274.
APA	谢季佳,徐娟,&洪友士.(2008).利用迹线测量晶体材料中特征面取向的EBSD方法.电子显微学报,27(4),271-274.
MLA	谢季佳,et al."利用迹线测量晶体材料中特征面取向的EBSD方法".电子显微学报 27.4(2008):271-274.